常用的可測(cè)性設(shè)計(jì)方法包括基于掃描鏈（scan chain）的測(cè)試方法和內(nèi)建自測(cè)試電路。

掃描鏈（SC）設(shè)計(jì)

時(shí)序電路的直接測(cè)試往往是難以實(shí)現(xiàn)的，掃描設(shè)計(jì)通常能很好的解決之一問(wèn)題。

掃描設(shè)計(jì)的主要思想就是把難以進(jìn)行測(cè)試的電路轉(zhuǎn)化為可測(cè)的電路。要實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)，需要把電路中原有的一般觸發(fā)器用可觀測(cè)可控制的掃描觸發(fā)器進(jìn)行代替，這些掃描觸發(fā)器串接到一起形成掃描鏈（Scan Chain，SC），那么，在測(cè)試模式下，就可以通過(guò)掃描鏈來(lái)串行移入移出測(cè)試數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)整個(gè)電路的控制和觀測(cè)。單個(gè)掃描觸發(fā)器代替一般觸發(fā)器的例子如圖：

從上圖可以看到，掃描觸發(fā)器在原始觸發(fā)器的基礎(chǔ)上在數(shù)據(jù)輸入端D 增加了一個(gè)多路選擇器，用以實(shí)現(xiàn)對(duì)輸入數(shù)據(jù)的選擇，其中Scan in 是掃描數(shù)據(jù)輸入端口，Scan enable 是輸入選擇控制端，Scan out 復(fù)用原始輸出端Q。常見(jiàn)的掃描觸發(fā)器的工作模式有正常工作模式和掃描移位模式兩種：

（1） 正常工作模式：Scan enable 為0 時(shí)，此時(shí)為正常工作模式，D 輸入端選通，Q 作為輸出端，數(shù)據(jù)從D 輸入，從Q 輸出；

（2） 掃描移位模式：Scan enable 為1 時(shí)，此時(shí)為掃描移位模式，Scan in輸入端選通，Scan out 作為掃描輸出，測(cè)試數(shù)據(jù)由Scan in 輸入，由Scan out 輸出。

將掃描觸發(fā)器單元連接在一起，就構(gòu)成了掃描設(shè)計(jì)的基本結(jié)構(gòu)。根據(jù)是否所有的寄存器都是掃描單元并已連接到掃描鏈，可以將掃描設(shè)計(jì)分為全掃描和部分掃描。通常為了提高電路的性能，我們往往排除那些不符合可測(cè)性設(shè)計(jì)規(guī)則的寄存器，這樣設(shè)計(jì)得到的電路一般介于全掃描和部分掃描之間。

對(duì)加入掃描設(shè)計(jì)后的電路進(jìn)行測(cè)試時(shí)，我們首先設(shè)置模式選擇端sc_en 為1，電路處于掃描移位模式，向掃描輸入端口sc_in 打入測(cè)試向量，比如101，通過(guò)掃描鏈傳至每個(gè)掃描寄存器；然后我們?cè)O(shè)置sc_en 端口為0，電路進(jìn)入正常工作模式，并行向三個(gè)原始輸入端口A，B，C 打入激勵(lì)；從輸出端口Q 捕獲響應(yīng)數(shù)據(jù)，分析響應(yīng)數(shù)據(jù)就可以達(dá)到測(cè)試目的。