Thermo Scientific? MK.2TE ESD 和閂鎖測(cè)試系統(tǒng)為用戶(hù)提供按照當(dāng)今的人體模型 (HBM) 和機(jī)器模型 (MM) ESD 標(biāo)準(zhǔn)對(duì)高銷(xiāo)計(jì)數(shù)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的高級(jí)功能。系統(tǒng)的脈沖傳輸設(shè)計(jì)確保標(biāo)準(zhǔn)中的波形危害（如尾隨脈沖和預(yù)放電電壓上升）得以解決。通過(guò)在主 HBM 事件后使 DUT 暴露于電氣過(guò)應(yīng)力，已證明尾隨脈沖可導(dǎo)致非 ESD 相關(guān)故障。預(yù)放電電壓會(huì)導(dǎo)致電壓觸發(fā)的保護(hù)結(jié)構(gòu)失效，因?yàn)楫?dāng) HBM 事件發(fā)生時(shí)，被測(cè)銷(xiāo)可能不是零伏。在脈沖期間可以連接用戶(hù)可選擇的 10K 分流器，以消除實(shí)際 HBM 事件之前的任何電壓。MK.2 組合測(cè)試系統(tǒng)還根據(jù) JEDEC EIA/JESD 78 方法執(zhí)行閂鎖測(cè)試。其增強(qiáng)的數(shù)據(jù)集功能提供了靈活性，以滿足當(dāng)今系統(tǒng)級(jí)芯片設(shè)計(jì)的測(cè)試需求。

·波形網(wǎng)絡(luò)：8 位 HBM 脈沖源

·符合人體模型 (HBM) 和機(jī)器模型 (MM) 測(cè)試的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

·按照當(dāng)前的 JEDEC EIA/JESD 78 測(cè)試方法進(jìn)行閂鎖測(cè)試

·預(yù)處理選項(xiàng)可實(shí)現(xiàn) DUT 矢量化，用合成的測(cè)試和矢量模式實(shí)現(xiàn)出色的控制

·高可重復(fù)性、可重現(xiàn)性檢測(cè)數(shù)據(jù)

·增強(qiáng)的數(shù)據(jù)集功能

·高壓電源底盤(pán)

·電源定序

·事件觸發(fā)器輸出

·全面的工程矢量糾錯(cuò)

·使用 Thermo Scientific? Scimitar? 軟件平臺(tái)進(jìn)行直觀的設(shè)置和操作

          中冷研發(fā)的ThermoTST TS760是一臺(tái)精密的高低溫沖擊氣流儀，具有更廣泛的溫度范圍-70℃到+225℃，提供了很強(qiáng)的溫度轉(zhuǎn)換測(cè)試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-55℃到+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒 ; 經(jīng)長(zhǎng)期的多工況驗(yàn)證，滿足各類(lèi)生產(chǎn)環(huán)境和工程環(huán)境的要求。TS-760是純機(jī)械制冷，無(wú)需液氮或任何其他消耗性制冷劑。

         ThermoTST熱流儀搭配閂鎖測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行靜電測(cè)試案例: 某知名半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)公司自主設(shè)計(jì)及研發(fā)芯片, 要求在溫度范圍 - 50 ℃~ 150 ℃ 時(shí)搭配閂鎖測(cè)試進(jìn)行靜電測(cè)試, 在電工作下檢查不同溫度下所涉及到的元器件或模塊各項(xiàng)功能是否正常. ThermoTST TS760高低溫?zé)崃鲀x, 測(cè)試溫度范圍 -70 至 +225°C, 輸出氣流量 4 至 24 scfm, 溫度精度 ±1℃, 通過(guò)使用該設(shè)備, 大幅提高工作效率, 并能增強(qiáng)的數(shù)據(jù)集功能提供了靈活性，以滿足當(dāng)今系統(tǒng)級(jí)芯片設(shè)計(jì)的測(cè)試需求。